Вы здесь

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Номер изобретения: 
2456539
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г.Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 427, М.В. Ваганичевой
Реферат: 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. Сущность: на установочной плоскости размещают стойку, на которую устанавливают прижим. Устанавливают отсчетное устройство на базирующем элементе, обеспечивая измерительному щупу заданный вылет в коническом отверстии базирующего элемента. Размещают базирующий элемент на установочной плоскости. Устанавливают объект измерения сферической поверхностью в коническое отверстие, при этом обеспечивают контакт первой измеряемой плоскости с измерительным щупом. Подводят прижим и одновременно вращают объект измерения в коническом отверстии, добиваясь прилегания рабочей поверхности прижима со второй измеряемой плоскостью. Снимают первое показание отсчетного устройства, отводят прижим. Переустанавливают объект измерения в базирующем элементе. Повторяют операции, связанные с измерением расположения второй измеряемой плоскости. Снимают второе показание отсчетного устройства. Определяют отклонения от настроенного значения расстояния от измеряемых плоскостей до центра сферической поверхности по показаниям отсчетного устройства, а по их полуразности - отклонение от симметричности плоскостей относительно упомянутого центра. Технический результат: обеспечивается измерение двух параметров взаимного расположения плоскостей и центра сферы. 1 ил.

Air Jordan