Loading...

Справка

Шрифт

Интервал

Цветовая схема

Изображения

Каталог Тверских изобретений

Main navigation

  • Главная
  • Патенты на изобретения
    • Авторы
    • Патентообладатель
  • Патенты на полезные модели
    • Авторы
    • Патентообладатель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Строка навигации

  • Главная
  • СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ
20.07.2014
2523761
G01B5/00
Архаров Анатолий Павлович (RU)
Любимов Кирилл Сергеевич (RU)
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный технический университет" (RU)
170026, г.Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 425, Стригина В.А.

Изобретение относится к измерительной технике, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. Заявленный способ измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности заключается в том, что на установочной плоскости размещают базирующий элемент, содержащий коническое отверстие. Устанавливают отсчетное устройство на базирующем элементе, обеспечивая измерительному щупу заданный вылет относительно оси конического отверстия и перпендикулярность осей измерительного щупа и конического отверстия. Устанавливают объект измерения сферической поверхностью в коническое отверстие, располагая измеряемые плоскости по разные стороны от оси конического отверстия и обеспечивая контакт первой измеряемой плоскости с измерительным щупом. Покачивают объект измерения в коническом отверстии, добиваясь прилегания рабочей поверхности измерительного щупа с первой измеряемой плоскостью. Снимают первое показание отсчетного устройства. Переустанавливают объект измерения в базирующем элементе. Повторяют операции, связанные с измерением расположения второй измеряемой плоскости. Снимают второе показание отсчетного устройства. Определяют отклонения от настроенного значения расстояния от измеряемых плоскостей до центра сферической поверхности по показаниям отсчетного устройства, а по их полуразности - отклонение от симметричности плоскостей относительно упомянутого центра. Технический результат, достигаемый от реализации заявленного способа, заключается в том, что обеспечивается упрощение способа, повышение его производительности и точности измерения отклонений расстояния от измеряемых плоскостей до центра наружной сферы. 1 ил.


Яндекс.Метрика

© 2026 Тверская областная универсальная научная библиотека им. А.М. Горького - Все права защищены