Вы здесь

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Номер изобретения: 
2523761
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г.Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 425, Стригина В.А.
Реферат: 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. Заявленный способ измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности заключается в том, что на установочной плоскости размещают базирующий элемент, содержащий коническое отверстие. Устанавливают отсчетное устройство на базирующем элементе, обеспечивая измерительному щупу заданный вылет относительно оси конического отверстия и перпендикулярность осей измерительного щупа и конического отверстия. Устанавливают объект измерения сферической поверхностью в коническое отверстие, располагая измеряемые плоскости по разные стороны от оси конического отверстия и обеспечивая контакт первой измеряемой плоскости с измерительным щупом. Покачивают объект измерения в коническом отверстии, добиваясь прилегания рабочей поверхности измерительного щупа с первой измеряемой плоскостью. Снимают первое показание отсчетного устройства. Переустанавливают объект измерения в базирующем элементе. Повторяют операции, связанные с измерением расположения второй измеряемой плоскости. Снимают второе показание отсчетного устройства. Определяют отклонения от настроенного значения расстояния от измеряемых плоскостей до центра сферической поверхности по показаниям отсчетного устройства, а по их полуразности - отклонение от симметричности плоскостей относительно упомянутого центра. Технический результат, достигаемый от реализации заявленного способа, заключается в том, что обеспечивается упрощение способа, повышение его производительности и точности измерения отклонений расстояния от измеряемых плоскостей до центра наружной сферы. 1 ил.

Ni?o/a