Вы здесь

Способ измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности

Дата публикации: 
10.07.2020
Номер изобретения: 
2726285
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г. Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 425, Ваганичева М.В.
Реферат: 

Изобретение относится к измерительной техники, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. На установочной плоскости размещают базирующий элемент, содержащий базирующие призмы. Устанавливают на базирующем элементе основное отсчетное устройство, обеспечивая его измерительному щупу заданный вылет. Устанавливают объект измерения цилиндрическими поверхностями на базирующие призмы. Смещают объект измерения к измерительному щупу основного отсчетного устройства, обеспечивая упомянутому щупу контакт с измеряемой плоскостью и последующий натяг. Устанавливают дополнительное отсчетное устройство на ориентирующую призму. Ориентируют объект измерения путем подвода к нему ориентирующей призмы. Снимают первое и второе показания соответственно на основном и дополнительном отсчетных устройствах. По показаниям судят об отклонениях от настроенного значения расстояния от каждой из измеряемых плоскостей до центра наружной сферической поверхности, а по их полуразности - об отклонении от симметричности этих плоскостей относительно упомянутого центра. Техническим результатом является повышение производительности измерений. 1 ил.