RSS
 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

31.07 2020
Comments off
Дата публикации: 
10.07.2020
Номер изобретения: 
2726294
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г. Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 425, Ваганичева М.В.
Реферат: 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. Устройство содержит основание, базирующий элемент с базирующими призмами, основной и дополнительный индикаторы с измерительными стержнями, кронштейн, каретку, размещенную на кронштейне, ориентирующую призму. Основной индикатор закреплен на базирующем элементе. Дополнительный индикатор закреплен на ориентирующей призме. Измерительные стержни обоих индикаторов размещены своими осями в общей биссекторной плоскости базирующих призм перпендикулярно биссекторной плоскости ориентирующей призмы, расположены на одинаково заданном вылете относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы и с возможностью взаимодействия каждого из измерительных стержней с измеряемой плоскостью, обращенной к соответствующему стержню. Ориентирующая призма размещена между базирующими призмами и расположена перпендикулярно своей биссекторной плоскостью к общей биссекторной плоскости базирующих призм с возможностью взаимодействия своими рабочими поверхностями с наружной сферической поверхностью объекта измерения. Техническим результатом является повышение производительности устройства.