Изобретение относится к измерительной технике, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. На установочной плоскости размещают базирующий элемент с двумя базирующими призмами. Устанавливают ориентирующий механизм с ориентирующей призмой на базирующем элементе, обеспечивая перпендикулярность биссекторной плоскости ориентирующей призмы к общей биссекторной плоскости базирующих призм. Устанавливают основное отсчетное устройство на базирующем элементе, обеспечивая измерительному щупу заданный вылет относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы и расположение оси упомянутого щупа в общей биссекторной плоскости. Устанавливают на базирующем элементе дополнительное отсчетное устройство с измерительным наконечником, обеспечивая упомянутому наконечнику соосность с измерительным щупом и их симметричность относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы. Отводят измерительный щуп.Устанавливают объект измерения цилиндрическими поверхностями на базирующие призмы. Подводят измерительный щуп к объекту измерения, обеспечивая измерительному щупу контакт с измеряемой плоскостью. Ориентируют объект измерения путем перемещения к нему каретки с ориентирующей призмой, добиваясь прилегания рабочих поверхностей ориентирующей призмы к сферической поверхности объекта измерения и обеспечивая смещение упомянутого объекта на базирующих призмах и контакт другой измеряемой плоскости с измерительным наконечником. Снимают показания на отсчетных устройствах. Определяют отклонения расстояний от измеряемых плоскостей до центра сферы по показаниям, а по их полуразности - отклонение от симметричности этих плоскостей относительно упомянутого центра. Достигается повышение точности измерения. 2 ил.
