RSS
 

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

12.09 2023
Дата публикации: 
13.07.2023
Номер изобретения: 
2799868
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г. Тверь, наб. А. Никитина, 22, ФГБОУ ВО ТвГТУ, каб. 425, Ваганичева М.В.
Реферат: 

Изобретение относится к машиностроению, преимущественно для измерения деталей, содержащих плоскости и сферу. На установочной плоскости размещают базирующий элемент, содержащий базирующие призмы. Устанавливают ориентирующий механизм с кареткой и ориентирующей призмой на базирующем элементе. Устанавливают на базирующем элементе основное отсчетное устройство с измерительным щупом и с основным арретирующим механизмом. Устанавливают на базирующем элементе дополнительное отсчетное устройство с измерительным наконечником и с дополнительным ориентирующим механизмом. При этом оси упомянутых щупа и наконечника размещают в общей биссекторной плоскости базирующих призм с обеспечением их соосности, а измерительный щуп и наконечник располагают на заданном вылете и симметрично относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы. При установке отсчетных устройств располагают основной арретирующий механизм с возможностью его взаимодействия с кареткой и измерительным щупом, а дополнительный арретирующий механизм - с кареткой и измерительным наконечником. Устанавливают объект измерения на базирующие призмы, ориентируя его путем перемещения к нему каретки. При этом добиваются прилегания призмы к наружной сферической поверхности объекта измерения, смещения его вдоль общей биссекторной плоскости, и подвода измерительных щупа и наконечника к измеряемым плоскостям. Снимают показания на отсчетных устройствах. При отводе каретки арретирующие механизмы отводят измерительный щуп и наконечник в исходное положение. По показаниям определяют отклонения измеряемых параметров от настроенного значения. Технический результат - повышение производительности способа. 1 ил.