Изобретение относится к измерительной технике, в частности для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. На установочной плоскости размещают базирующий элемент, содержащий базирующие призмы. Устанавливают ориентирующий механизм на базирующем элементе, обеспечивая перпендикулярность биссекторной плоскости ориентирующей призмы к общей биссекторной плоскости базирующих призм. Устанавливают на базирующем элементе отсчетное устройство, обеспечивая его измерительному щупу заданный вылет относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы и расположение оси измерительного щупа в общей биссекторной плоскости базирующих призм. Устанавливают объект измерения цилиндрическими поверхностями на базирующие призмы. Ориентируют объект измерения вдоль общей биссекторной плоскости базирующих призм путем подвода к нему ориентирующей призмы. Снимают первое показание отсчетного устройства. Переустанавливают и вновь ориентируют объект измерения. Снимают второе показание отсчетного устройства. По показаниям судят об отклонениях от настроенного значения расстояния от каждой из измеряемых плоскостей до центра наружной сферической поверхности, а по их полуразности - о симметричности измеряемых плоскостей относительно упомянутого центра. Предложенное изобретение направлено на повышение точности измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности. 2 ил.
