Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о топологии и других свойствах поверхности объекта, для изучения поверхности тел методом атомно-силовой микроскопии и нанотехнологии. Зонд сканирующего микроскопа состоит из иглы 1 и консоли 2, закрепленной в держателе 4. Игла 1 выполнена в виде однослойной углеродной нанотрубки, на свободном конце консоли 2 выполнено отверстие 3 для свободного прохождения сквозь него иглы 1, с двух сторон от которого расположены свободные концы пары упругих элементов зажима 5, установленного на консоли 2, и пара упругих элементов захвата 6, расположенного над элементами зажима 5. Со стороны держателя 4 пары элементов зажима 5 и захвата 6 жестко скреплены между собой и закреплены на держателе 4, образуя единый электрический проводник, а их поверхности покрыты слоем 7 диэлектрика. Зонд дополнительно содержит источник 8 сигналов управления положением иглы 1, электрические входы которого связаны с иглой 1, парами упругих элементов зажима 5 и захвата 6. Техническим результатом изобретения является повышение точности и надёжности зонда сканирующего микроскопа. 3 ил.
