Loading...

Справка

Шрифт

Интервал

Цветовая схема

Изображения

Каталог Тверских изобретений

Main navigation

  • Главная
  • Патенты на изобретения
    • Авторы
    • Патентообладатель
  • Патенты на полезные модели
    • Авторы
    • Патентообладатель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Строка навигации

  • Главная
  • УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТЕЙ ОТНОСИТЕЛЬНО ЦЕНТРА НАРУЖНОЙ СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ
13.07.2023
2799869
G01B5/14
Архаров Анатолий Павлович (RU)
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный технический университет" (RU)
170026, г. Тверь, наб. А. Никитина, 22, ТвГТУ, каб. 425, Ваганичева М.В.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения взаимного расположения плоскостей и наружной сферической поверхности. Устройство содержит основание, базирующий элемент с базирующими призмами, расположенными с образованием общей биссекторной плоскости, основной индикатор с измерительным наконечником, дополнительный индикатор с измерительным стержнем, кронштейн, каретку, размещенную на кронштейне с возможностью поступательного перемещения, ориентирующую призму, закрепленную на каретке, основной и дополнительный арретиры, установленные на индикаторах, и основной и дополнительный кулачки, закрепленные на ориентирующей призме. Оба индикатора закреплены на базирующем элементе, а их измерительные наконечник и стержень размещены своими осями в общей биссекторной плоскости базирующих призм и расположены соосно на заданном вылете и симметрично относительно биссекторной плоскости ориентирующей призмы с возможностью взаимодействия с измеряемыми плоскостями. Ориентирующая призма размещена между базирующими призмами и расположена перпендикулярно своей биссекторной плоскостью к общей биссекторной плоскости базирующих призм с возможностью взаимодействия своими рабочими поверхностями с наружной сферической поверхностью объекта измерения. Основной арретир размещен с возможностью взаимодействия своим рычагом с основным кулачком и измерительным наконечником, а дополнительный арретир размещен с возможностью взаимодействия своим рычагом с дополнительным кулачком и измерительным стержнем. Технический результат - повышение производительности устройства. 2 ил.


Яндекс.Метрика

© 2026 Тверская областная универсальная научная библиотека им. А.М. Горького - Все права защищены