Изобретение относится к области контроля технологических процессов и касается ИК-спектроскопического способа контроля качества прекурсоров для ориентационного вытягивания пленочных нитей из сверхвысокомолекулярного полиэтилена. Способ включает в себя направление на прекурсор потока света, прием и передачу на ИК-Фурье спектрофотометр рассеянного света в диапазоне длин волн 1000-25000 нм и формирование спектра рассеяния. Спектр рассеяния формируют вычитанием из спектра пропускания монолитного образца сверхвысокомолекулярного полиэтилена спектра пропускания дисперсного образца одинаковой толщины. Дифференцированием спектра рассеяния получают распределение дисперсных частиц по размерам. Анализируя размер дисперсных частиц и их расположение в дисперсном материале определяют характер дефектов и формируют управляющее воздействие на технологические параметры процесса получения прекурсоров. Технический результат заключается в повышении степени воспроизводимости и качества прекурсоров. 2 н.п. ф-лы, 3 ил.
