RSS
 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИАГРАММЫ НАПРАВЛЕННОСТИ АНТЕННЫ МЕТОДОМ ОБЛЕТА

06.08 2024
Дата публикации: 
04.07.2024
Номер изобретения: 
2822401
Класс МПК: 
Адрес для переписки: 
170026, г. Тверь, наб. А. Никитина, 32, АО "НПЦ ТВП"
Реферат: 

Изобретение относится к антенной технике и служит для измерения параметров диаграммы направленности антенны (ДНА) методом облета. Технический результат - автоматическое измерение направлений боковых лепестков (БЛ) и их уровней относительно главного лепестка (ГЛ) ДНА и расчет погрешности этих измерений за один облет. Результат достигается тем, что предложен способ измерения параметров ДНА методом облета, согласно которому на борту воздушного судна (ВС) формируют последовательность измерений мощности сигналов, принимаемых от исследуемой антенны, передают ее в бортовой вычислитель и записывают вместе с временем их приема и текущими координатами ВС в бортовой цифровой накопитель, после облета выборку измерений мощности фильтруют медианным фильтром, в фильтрованной последовательности отыскивают максимумы, один из которых соответствует ГЛ, а другие БЛ ДНА, в окрестности каждого максимума (внутри ГЛ и каждого БЛ ДНА) формируют выборки измерений мощности, сглаживают их методом наименьших квадратов, предварительно исключив аномальные измерения и оценив флуктуации измерений мощности на нормальность, получают полиномы, описывающие форму ГЛ и БЛ ДНА, определяют их направления, ширину ГЛ, а также уровни БЛ относительно ГЛ ДНА. 27 ил.