Перейти к основному содержанию
Каталог Тверских изобретений
RSS
G01N1/28
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗНАЧЕНИЙ ДЗЕТА-ПОТЕНЦИАЛА ЧАСТИЦ КОЛЛОИДНЫХ СИСТЕМ ОПТИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ
02.11
2023
Дата публикации:
24.10.2023
2 805 767
Класс МПК:
G01N1/28
Автор:
Аверкин Дмитрий Вадимович (RU)
Балаханов Дмитрий Михайлович (RU)
Вишневецкий Дмитрий Викторович (RU)
Патентообладатель:
ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "СУПРАТЕХ" (RU)
Подробнее
о СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗНАЧЕНИЙ ДЗЕТА-ПОТЕНЦИАЛА ЧАСТИЦ КОЛЛОИДНЫХ СИСТЕМ ОПТИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СТАНДАРТОВ СРАВНЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОКИНЕТИЧЕСКОГО (ДЗЕТА) ПОТЕНЦИАЛА
27.05
2021
Дата публикации:
23.04.2021
2 746 992
Класс МПК:
G01N1/28
Автор:
Аверкин Дмитрий Вадимович (RU)
Межеумов Игорь Николаевич (RU)
Беленький Дмитрий Ильич (RU)
Хижняк Светлана Дмитриевна (RU)
Пахомов Павел Михайлович (RU)
Патентообладатель:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный университет" (RU)
Подробнее
о СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СТАНДАРТОВ СРАВНЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОКИНЕТИЧЕСКОГО (ДЗЕТА) ПОТЕНЦИАЛА
СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ НА РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
21.05
2016
Comments off
Дата публикации:
20.07.2015
2 557 179
Класс МПК:
G01N1/28
Автор:
Журавлев Олег Евгеньевич (RU)
Иванова Александра Ивановна (RU)
Гречишкин Ростислав Михайлович (RU)
Патентообладатель:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный университет" (RU)
Подробнее
о СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ НА РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
Патенты на изобретения
Патенты на полезные модели